装置構成

ナノ観察装置

電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)
電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)
試料表面に電子線を照射し、試料から発生してくる2次電子を捕捉しディスプレイを介して観察する装置です。走査電子顕微鏡では、焦点深度が深いので試料表面を立体的に観察できます。
生体材料からポリマーまで様々な試料表面の微細領域の凹凸観察や、元素の分析が可能です。
バイオナノテクノロジー,半導体,化学など様々な分野で最先端の研究開発に活用できます。
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電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)の特長
収差補正器の組み込み、耐震性に優れたステージの採用により、低加速電圧でサブナノメートルが観察できる超高分解能を実現
エネルギー分散形X線分析装置を装着しているため、微小領域の元素分析を非破壊で可能
冷陰極電界放出形電子銃を搭載
電界放出形走査電子顕微鏡(SEM)の主な仕様
二次電子像分解能0.6nm(5kV)、1.0nm(1kV)
倍率×25?×2 000 000
加速電圧0.5kV?30kV
設置場所: バイオナノテクセンター(片柳研究所棟 地下1階分室1)
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